2000年以来の誘導加熱

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IGBT中間周波誘導加熱システムの基礎試験&限界試験

1)。 低電圧共振の基本的なテスト 低電圧共振から何がわかるか:

1. 明白でない共振、共振ロック、共振制御、制御システムの精度

2. 出力電圧波形、ZVS 波形

3. 高周波・中周波電流の系統波形

4. 高中周波電流下でのモジュールの導通電圧降下と飽和導通波形

5.制限周波数、ロックできる制限動作周波数

6. 伝導損失、ラジエータ温度、主な発生ホット スポット

7. 共振コンデンサとフィルタ コンデンサの加熱。 共振コンデンサの加熱は、中間周波数電流にのみ関係します

8. 制御システムの現在の境界を設定する

9. 本体構造の設計の妥当性と銅部分の電流強度

10. 並列構造の平均電流問題、実際の平均電流比

11. 部分的な保護機能のテストが可能

2)。 HV 共振の基本的なテスト HV 共振から何がわかるか:

1. 出力電圧波形、ZVS 波形、ブレークポイント波形

2. ブレークフェーズをオフにする

3. オープンロック現象、チューブ爆発現象

4.電流エンベロープ、周波数エンベロープ、モジュール安定性の安定動作

5.損失、伝導損失を遮断

6. あらゆる場所で異常波形を観察し、発生したチューブ爆発の原因を迅速に突き止める

7. ZVS容量、共振容量、フィルター容量の発熱現象

8. ラジエーター温度上昇

3) ホストの出力電流制限をテストする

モジュールの出力容量に応じて、出力電流の安全境界が決定され、ホストがこの電流境界に到達するように X2 ポテンショメータが低電圧共振で調整されます。 これは、成熟した製品の大量生産に最も一般的に使用される方法です (たとえば、FF150RKE3G の出力電流は、比較的安全な MF90A に固定されています)。 ホストの安全性を決定するのは入力電流ではなく、モジュールの出力電流です。

4) ホストの IGBT スイッチの過電圧制限テスト

低電圧共振モードに入り、ホストに最大定格電流を出力させます。 IGBT がオフになると、テスト モジュールのバスの電圧波形に鋭いパルス ショックが見られます。 これがスイッチ過電圧の現象で、吸収容量とモジュール間のリード線との間の誘導性リアクタンス分布によって引き起こされます。 これは好ましくない要因であり、モジュールが過圧になり、損失が増加します。 したがって、この高周波発振現象を抑えるには、バスバーをできるだけ短くする必要があります。 パルス過電圧の振幅を注意深く観察し、測定する必要があります。 パルス過電圧の高さは 100V を超えてはなりません。

5) 無負荷試験・鉄心飽和限界試験(変圧器出力)

誘導コイルに給電しない状態で、開放共振電流(定格中間周波電流の 1.5 倍以下)が飽和してはならない。 磁気コアの飽和マージンは非常に重要です。 十分なマージンがないと、磁気コアが動作し続けると飽和が発生し、多くの悪影響をもたらします。 電流波形、出力電圧、共振周波数を観察します。 飽和の兆候がある場合、電流に鋭い波形があり、共振周波数が大幅に上昇します (通常、電流は小さいものから大きいものに変化し、周波数はほとんど変化せず、一般に 1KHZ を超えません)。無負荷試験では、飽和の兆候が見られたら、修正のために試験を直ちに停止する必要があります。 変圧器の飽和は重大な品質イベントであり、主エンジン管の爆発、磁気コアの過熱、加熱効率の急激な低下などの問題を引き起こします。無負荷試験は共振コンデンサの優れた試験でもあり、コンデンサの過熱を引き起こす可能性があります。 、破壊放電、およびその他の現象により、ホストの超周波数が発生することがありますが、その理由はわかりません。 定格電流で 15 ~ 30 分間動作させると、蓄積された熱がいくつかの問題を示し、簡単に露出します。 負荷試験に比べて無負荷試験の利便性は、電流を自由に調整できることです。 誘導コイルの負荷インピーダンスが増加すると、中間周波数電流を自由に調整できなくなる場合があります。

コア飽和に関連する要素:

1. 磁心の材料選択不足と軽すぎる

2. 出力ターン電圧が高すぎる

3.磁気コアの磁気回路にエアギャップ(1mm〜2mm)がありません

4. 銅部品の初期カップリングの不良、漏れ感度の高さ、および製造プロセスの悪さ

5.周波数が低すぎる

6) 負荷入力電力制限試験

テスト後の誘導コイルの動作、負荷テストの主な有効電力、加熱速度、パフォーマンスなどの加熱の均一性、主にインピーダンスマッチング時間、誘導コイルの条件下で、同じことが動かず、変化が異なり、インピーダンスが異なります。直径が大きく、インピーダンスが高い鉄棒の直径は、最適な点のインピーダンスのみであり、最大の有効電流入力となり、小さい大きいと有効電力が減少します。

ホスト設計における一般的な問題:

1.コア飽和問題(トランス出力)

2. 電源コンデンサの加熱と内部放電の問題

3. IGBT 並列運転、電流分担問題

4. IGBT が過圧の問題を遮断

5. IGBT、銅バー、コンデンサなどの高温箇所の冷却

6. IGBT 無誘導ループへのフィルタ容量の問題

7. 銅部品の酸化と接点抵抗の問題

8.回路保護、過電流保護、短絡保護、ゼロシーケンス保護、周波数保護、磁気コア飽和保護

9. 電源高調波公害と磁場放射

10. ソフトスイッチ技術 ZCS_ZVS の合成

11. フィールドマニュアルとフィールドデータが不十分

下部構造設計、ルーチンデータ、限界データ、症状発現、調整方法、調整順序、測定点、測定ツール、依存データ

12. 制御系の問題まとめ、制御盤、変圧器、シールド線、その他付属品、電流精度、位相精度

13.周波数の問題、インピーダンスの問題、電力の問題などの一般的なアプリケーションの問題

14.グリッド波形、低電圧共振、高電圧共振、無負荷試験、負荷試験。

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